紋、冷隔類缺陷 冷裂熱裂 鑄件表面或內(nèi)部由于各種原因溫度變化發(fā)生斷裂而形成的裂縫或是充型條件差導(dǎo)致。尺寸較短、縫隙較寬、形狀曲折、縫內(nèi)呈嚴(yán)重氧化色。

鑄件缺陷檢測(cè)方法-小焦點(diǎn)小型X線透視檢測(cè)裝置IC封裝的內(nèi)部檢測(cè):晶元貼裝質(zhì)量、金絲壓焊、封裝內(nèi)部氣孔電池、電解電容器:電極構(gòu)造檢測(cè) 陶瓷、塑料、金屬部件: 氣孔、開(kāi)裂、異物混入等的檢測(cè)制造商.應(yīng)用于半導(dǎo)體零部件生產(chǎn)、電子產(chǎn)品加工、實(shí)裝基板、電子產(chǎn)品封裝、鋁鑄件加工等行業(yè)。