特性
4156C提供4個內(nèi)置的高分辨率的源/監(jiān)控單元（HPSMUs），兩個電壓源單元（VSUs）和兩個電壓監(jiān)控單元（VMUs）
1 fA 和0.2UV的測試精度可滿足開發(fā)新工技術(shù)和評價(jià)材料
全Kelvin，每個HRSMU有激勵源、感應(yīng)和接地端
完成準(zhǔn)靜態(tài)的電容對電壓測試
自動提取處理參數(shù)而不需要人工操作屏幕光標(biāo)
用泄漏的SMUs測量泄露特性
用集成的脈沖發(fā)生器和選擇開關(guān)自動完成器件表征
用內(nèi)置的應(yīng)力模式完成晶片的可靠性測試
用圖形用戶界面完成“點(diǎn)擊”測試
基于Windows環(huán)境的圖形數(shù)據(jù)分析能力
旋鈕掃描功能可以快速檢驗(yàn)探針是否接觸正常
待機(jī)模式不需要外部電源
觸發(fā)模式可以同步AC/DC測試。
IBASIC 用戶功能可以繪圖和分析數(shù)據(jù)。
Agilent4156C精密半導(dǎo)體參數(shù)測試儀
Agilent4156C精密半導(dǎo)體參數(shù)測試儀是Agilent下一代的精密半導(dǎo)體參數(shù)測試儀，4156C為高級器件表征提供了高精
較高的低電流、低電壓分辨率和內(nèi)置準(zhǔn)靜態(tài)CV測量能力，4156C還為以后和其他的測量儀器的擴(kuò)展使用提供了堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。
41501B擴(kuò)展測量能力到1A/200V，并給Agilent4156C增加一個低的噪聲接地單元和雙脈沖發(fā)生器。
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