CT-6高低溫探針臺
可用于12英寸以內樣品測試
采用密閉腔結構，屏蔽外部電信干擾同時保持氮氣正壓環(huán)境下樣品在低溫時無結霜
CINDBEST CT-6 | 6"~12" 高低溫探針臺測試系統
特點/應用
可用于12英寸以內樣品測試
采用密閉腔結構，屏蔽外部電信干擾同時保持氮氣正壓環(huán)境下樣品在低溫時無結霜
優(yōu)化的腔體保溫結構可以極大的減少液氮消耗量
可升降調節(jié)適合加裝探針卡
可搭配多種類型顯微鏡
結構模塊化設計，可無縫升級
探針臺可根據客戶要求定制。
高低溫探針臺
臺體規(guī)格：
型號：CT-6/CT-8/CT-12
樣品臺尺寸：6英寸/8英寸/12英寸
水平旋轉：可360度旋轉，可微調15度，精度0.1度，帶角度鎖死裝置
X-Y移動行程：6英寸*6英寸/8英寸*8英寸/12英寸*12英寸
X-Y移動精度：10微米/1微米
樣品固定：真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附環(huán)
針座平臺：U型針座平臺，最多可放置6~12個探針座
平臺升降：可快速升降10mm/可微調升降10mm
背電極測試：樣品臺電學獨立懸空，4mm插孔可接背電極
溫度范圍：負80°到正400°
溫控精度：0.01°/0.1°/1°
重量：約120千克/150千克
光學系統：
顯微鏡類型：單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡
放大倍率：16X-200X/20X-4000X
移動行程：水平方向繞立柱旋轉/XY軸移動4英寸，Z軸行程50.8mm
光源：外置LED環(huán)形光源/同軸光源
CCD：200萬像素/500萬像素/1200萬像素
定位器：
X-Y-Z移動行程：12mm*12mm*12mm
移動精度：10微米/2微米/0.7微米/0.5微米
吸附方式：磁力吸附/真空吸附
線纜：同軸線/三軸線
漏電精度：10pA/100fA/10fA
固定探針：彈簧固定/管狀固定
接頭類型：BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子
針尖直徑：0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米
針尖材質：鎢鋼/鈹銅
可選附件
加熱臺、顯示器、轉接頭、射頻測試配件、屏蔽箱、光學平臺、鍍金卡盤、光電測試配件、高壓測試配件、顯微鏡快速傾仰裝置、激光系統、探針卡夾具。
