XDR-AZ350型工業(yè)半導(dǎo)體X射線檢測設(shè)備可用于檢測缺陷(裂紋、分層、空洞等)，如電子元器件、發(fā)光二極管、金屬基板的脫層、裂紋等，并通過檢測圖像對比度來判斷缺陷的材質(zhì)、形狀、大小、方位等是否存在缺陷。XDR-AZ350型設(shè)備大小均可定制 詳情技術(shù)請咨詢聯(lián)系我們上海先威光電科技有限公司
x射線檢測 IGBT芯片結(jié)構(gòu)檢測設(shè)備 QFN焊接
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