雙電測(cè)電四探針方阻電阻率測(cè)試儀是一種專業(yè)用于測(cè)量材料表面電阻的精密工具。該測(cè)試儀器在電子制造、半導(dǎo)體行業(yè)、研究和教學(xué)等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。
BEST-300c系列四探針方阻測(cè)試儀是運(yùn)用四探針原理測(cè)量方塊電阻的專用儀器，電阻率和電導(dǎo)率同時(shí)顯示。儀器測(cè)試范圍0.0001mΩ~10.0000MΩ，小分辨率0.1uΩ，電阻的測(cè)量精度為±0.01%rdg.±0.001%f.s，方阻的測(cè)量精度為±2%rdg.±0.01%f.s，可用于測(cè)試半導(dǎo)體、金屬涂層以及導(dǎo)電薄膜等材料的電阻和電阻率。儀器具有高速的測(cè)試線異常檢測(cè)功能和極短的測(cè)量周期，能確保每次做出高速可靠的分選。儀器可自由配置成多檔分選，外部控制接口可配置成NPN/PNP。適合于各種信號(hào)接口的自動(dòng)產(chǎn)線。

BEST-300c系列四探針方阻測(cè)試儀使用開爾文測(cè)試夾直接測(cè)試電阻器直流電阻；使用四探針治具測(cè)試片狀或塊狀半導(dǎo)體材料、金屬涂層以及導(dǎo)電薄膜等材料的電阻和電阻率；雙電測(cè)原理，提高精度和穩(wěn)定性；測(cè)試探頭直排和矩形可選，標(biāo)配RS232/485、LAN、Handler接口，可搭配上位機(jī)軟件查看和記錄測(cè)試數(shù)據(jù)。

參數(shù)

1. 便于查看的顯示/直觀的操作性：高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD顯示；操作易學(xué)，直觀使用；

2. 基本設(shè)置操作簡(jiǎn)單，方阻、電阻、電阻率、電導(dǎo)率和分選結(jié)果；多種參數(shù)同時(shí)顯示。

3. 精度高：電阻基本準(zhǔn)確度： 0.01％；

方阻基本準(zhǔn)確度：1%；

電阻率基本準(zhǔn)確度：1%

4. 整機(jī)測(cè)量相對(duì)誤差：≤±1%；整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度：≤±1%

5. 四位半顯示讀數(shù)；十量程自動(dòng)或手動(dòng)測(cè)試；20mΩ/200mΩ/2000mΩ/20Ω/200Ω/2000Ω/20kΩ/200kΩ/2000ΚΩ/10ΜΩ 10檔分選；實(shí)現(xiàn)HIGH/IN/LOW分選

6. 測(cè)量范圍寬： 電阻：10-7Ω～10+8Ω ；方阻：10-7Ω/□～10+8Ω/□；

7. 顯示語(yǔ)言 英文/中文

8. 恒流源：電流量程為：DC100mA-1A；

9.供電模式110v/220v

10.軟件功能（選配）：軟件可記錄、保存、各點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)；可供用戶對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分 析。

11.測(cè)試模式：可連接電腦測(cè)試、也可不連接電腦單機(jī)測(cè)試。

12. 自動(dòng)進(jìn)行電流換向,并進(jìn)行正反向電流下的電阻率(或方塊電阻)測(cè)量,顯示平均值.測(cè)薄片時(shí),可自動(dòng)進(jìn)行厚度修正。

13. 雙電測(cè)測(cè)試模式，測(cè)量精度高、穩(wěn)定性好.

14. 具備溫度補(bǔ)償功能，修正被測(cè)材料溫漂帶來的測(cè)試結(jié)果偏差。

15. 比較器判斷燈直接顯示，勿需查看屏幕，作業(yè)效率得以提高。3檔分選功能：超上限，合格，超下限，可對(duì)被測(cè)件進(jìn)行HI/LOW判斷，可直接在LCD使用標(biāo)志顯示；也可通過USB接口、RS232接口輸出更為詳細(xì)的分選結(jié)果。

特點(diǎn)：

電阻 ⾼精度：0.01%， 小分辨率0.1uΩ；

方電阻精度：1%， 小分辨率：0.1uΩ；

雙電測(cè)原理，提⾼精度和穩(wěn)定性；

測(cè)試探頭直排和矩形可選；

標(biāo)配RS232、LAN、IO、通訊接⼝；

可配戴軟件查看和記錄測(cè)試數(shù)據(jù)；


核心選型要素

測(cè)量原理與精度

三電極法：符合 GB/T 10518-2006 標(biāo)準(zhǔn)，適合絕緣材料高溫電阻率測(cè)試。

四探針法：適用于薄膜類材料，可測(cè)方塊電阻和電阻率，支持溫度-電阻曲線分析。

電阻范圍：至少覆蓋 10~101Ω，高阻值段（>1012Ω）誤差需≤±20%。


樣品兼容性

夾具要求：薄膜樣品直徑應(yīng)≥100mm（不足需定制電極）。

測(cè)試方式：表面電阻與體積電阻需分開測(cè)量，且必須先測(cè)表面電阻。


對(duì)比

溫度范圍 測(cè)量原理 關(guān)鍵優(yōu)勢(shì) 適用標(biāo)準(zhǔn)

-160℃~500℃ 三電極法 支持介質(zhì)損耗/介電常數(shù)測(cè)試，控溫精度±0.5℃ GB/T 1409、ASTM D150

高溫真空/氣氛環(huán)境 三環(huán)電極法 鉑導(dǎo)線防信號(hào)衰減，觸摸屏操作便捷 GB/T 10518、ASTM

高溫箱集成 四探針法 自動(dòng)繪制溫度-電阻率曲線，適合導(dǎo)電薄膜分析 半導(dǎo)體材料標(biāo)準(zhǔn)

未明確高溫范圍11 通用法 觸控操作，支持固體/液體/薄膜， GB/T 1410、ASTM D25711


操作注意事項(xiàng)

試樣預(yù)處理：確保薄膜表面平整、無損傷，避免雜質(zhì)干擾。

環(huán)境控制：多數(shù)儀器工作環(huán)境為0℃~40℃，高溫測(cè)試需外接溫控設(shè)備。

數(shù)據(jù)校準(zhǔn)：定期校驗(yàn)儀器，高阻值（>1012Ω）段需重點(diǎn)驗(yàn)證精度。


多功能/程控型測(cè)試儀

寬范圍覆蓋

絕緣電阻：100kΩ–99GΩ（交直流耐壓一體機(jī)，支持多檔編程）；



全自動(dòng)粉體半導(dǎo)電電阻測(cè)試儀



電壓輸出：0.01kV–6kV，適配不同絕緣等級(jí)需求。

高精度能力

部分設(shè)備在2500V檔位可測(cè) 100GΩ，5000V檔位達(dá) 200GΩ（分辨率0.1MΩ）。


功能與場(chǎng)景適配

需求場(chǎng)景 關(guān)鍵功能配置 參考依據(jù)

現(xiàn)場(chǎng)快速檢測(cè) 便攜式設(shè)計(jì)（重量<10kg）、鋰電池續(xù)航>4小時(shí)、IP54防護(hù)等級(jí)

強(qiáng)電磁干擾環(huán)境 抗工頻干擾技術(shù)、自動(dòng)濾波功能

高精度診斷 四線制測(cè)量（消除引線誤差）、溫度自動(dòng)換算（校正至20℃標(biāo)準(zhǔn)值）

數(shù)據(jù)管理需求 存儲(chǔ)歷史數(shù)據(jù)、藍(lán)牙/USB導(dǎo)出、PC端分析軟件


典型應(yīng)用場(chǎng)景

材料研究：半導(dǎo)體材料（如硅、砷化鎵）、絕緣材料（云母、四氟材料）的電阻率隨溫度變化分析。

工業(yè)檢測(cè)：耐火材料、碳素制品的高溫導(dǎo)電性能評(píng)估

材料形態(tài)與樣品類型：

塊體/板材/棒材：通常采用四探針法或兩電極法（結(jié)合四線制測(cè)量）。

薄膜/涂層： 常用四探針法（尤其范德堡法對(duì)不規(guī)則形狀友好）、非接觸渦流法（無損）、或?qū)Ｓ帽∧る娮铚y(cè)試夾具。

粉末/顆粒： 需壓制成標(biāo)準(zhǔn)尺寸的片狀或棒狀樣品，再用塊體方法測(cè)量。需考慮壓制密度對(duì)電阻率的影響。

纖維/絲束： 需專用夾具夾持，常用兩電極法（四線制） 或改進(jìn)的四探針法。

復(fù)合材料： 取決于基體和增強(qiáng)相的性質(zhì)、分布。方法選擇需謹(jǐn)慎，可能需結(jié)合多種方法或定制夾具。

兩電極法 + 四線制：

在樣品兩端施加電流電極，在更內(nèi)側(cè)測(cè)量電壓電極。

優(yōu)點(diǎn)： 接線相對(duì)簡(jiǎn)單，可通過四線制消除引線電阻影響。

缺點(diǎn)： 電流分布不如四探針均勻，接觸電阻仍可能對(duì)電壓測(cè)量點(diǎn)有影響（盡管四線制已大幅降低），精度通常低于四探針法。適用于電阻率較高或較低，或形狀受限的樣品。