HY(SL)根據(jù)Master 卡CQM項目對卡進(jìn)行三輪測試�？ū环诺綑C(jī)器中，測試輪將循環(huán)測試100次，芯片前方滾動50次，芯片后方滾動50次，循環(huán)頻率為0.5Hz，向下的壓力為8N。經(jīng)過測試，檢查芯片情況，芯片應(yīng)該是完好無損且功能正常。測試儀配有額外的一個15N砝碼用于進(jìn)行CQM標(biāo)準(zhǔn)的測試。

電源：110-22V 50-60HZ

 測試標(biāo)準(zhǔn)參考：Mcd

 CQM測試標(biāo)準(zhǔn)參考:P-22

 測試方法參考：10.3.22

 CQM 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2