HY(SL)三輪測試儀根據(jù)Master 卡CQM項目對卡進行三輪測試�？ū环诺綑C器中，測試輪將循環(huán)測試100次，芯片前方滾動50次，芯片后方滾動50次，循環(huán)頻率為0.5Hz，向下的壓力為8N。經過測試，檢查芯片情況，芯片應該是完好無損且功能正常。測試儀配有額外的一個15N砝碼用于進行CQM標準的測試。

電源：110-22V 50-60HZ

 測試標準參考：Mcd

 CQM測試標準參考:P-22

 測試方法參考：10.3.22

 CQM 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2