對無源元器件和簡單的有源器件執(zhí)行基本分析 適用于對成本非常敏感的應用,可以在高達 20 GHz 的頻率范圍內(nèi)精確測量 S 參數(shù) 具有出色的性價比,可用于微波器件制造測試 可以配置經(jīng)濟型解決方案,用于信號完整性測量和材料表征 多點觸控屏和直觀的用戶界面加速對元器件特性的分析
對無源元器件和簡單的有源器件執(zhí)行基本分析 適用于對成本非常敏感的應用,可以在高達 20 GHz 的頻率范圍內(nèi)精確測量 S 參數(shù) 具有出色的性價比,可用于微波器件制造測試 可以配置經(jīng)濟型解決方案,用于信號完整性測量和材料表征 多點觸控屏和直觀的用戶界面加速對元器件特性的分析
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