晶體阻抗計
晶體阻抗計（晶振測試儀）是一種專業(yè)的晶振測試設(shè)備，主要測試無源晶振相應的電參數(shù)。采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實現(xiàn)串聯(lián)諧振頻率的測量，采用直接阻抗法來測試負載諧振頻率和負載電容，它測量精度高，速度快。具有串聯(lián)諧振頻率Fs、負載諧振頻率FL、串聯(lián)諧振電阻Rs、負載諧振電阻RL、負載電容CL、動態(tài)電容C1、動態(tài)電感L1、品質(zhì)因數(shù)Q、靜電容C0、頻率牽引力Ts等參數(shù)測量功能，負載電容在1-100P范圍內(nèi)任意編程設(shè)置，從滿足不同負載電容的晶振測試，智能網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)運算克服了市場上晶振測試設(shè)備使用實體電容法測試精度差，無法測試電參數(shù)的缺點、解除了手工校對的麻煩，讓晶振測試變得更輕松。
發(fā)展歷史
晶振測試主要方法主要經(jīng)歷了早期的晶體阻抗計，到目前主流的網(wǎng)絡(luò)分析儀方案。早期的晶體阻抗計檢定依據(jù)為JJG(電子) 05053-1995 晶體阻抗計檢定規(guī)程，代表產(chǎn)品有安捷倫HP4915A/4916A，S&A 150等；經(jīng)歷了約20年的發(fā)展，2023年國際公認的測試方法為網(wǎng)絡(luò)分析儀測試方案，依據(jù)標準為GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010《石英晶體元件參數(shù)的測量第11部分：采用自動網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定負載諧振頻率和有效負載電容的標準方法》，典型產(chǎn)品有智慧源的GDS-80系列等。
工作原理
播報
晶振測試儀GDS-80系列采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實現(xiàn)串聯(lián)諧振頻率的測量，采用直接阻抗法來測試負載諧振頻率和負載電容，它測量精度高，速度快。具有串聯(lián)諧振頻率Fs、負載諧振頻率FL、串聯(lián)諧振電阻Rs、負載諧振電阻RL、負載電容CL、動態(tài)電容C1、動態(tài)電感L1、品質(zhì)因數(shù)Q、靜電容C0、頻率牽引力Ts等參數(shù)測量功能。
功能配置
播報
自動測試功能；
超值報警功能
上位機軟件通信功能
尺寸參數(shù)
播報
250*280*150mm
產(chǎn)品特點
播報
1. 中心頻率范圍： 10KHz-200KHz,1MHz-200MHz任意設(shè)定
2. 掃描范圍：±1000ppm（默認±400ppm）
3. 負載電容：1-100P 任意設(shè)定
4. 串聯(lián)諧振頻率Fs測量范圍：±1000ppm（默認±400ppm） 測量精度：±5ppm
5. 串聯(lián)諧振電阻Fr：1MHz-100MHz：1Ω-1000Ω （2±10%*R Ω）
10KHz-200KHz：10K-300K （2±10%*R KΩ）
6. 負載電容CL測量范圍：1-200PF
7. 時基誤差：±1ppm
8. 負載諧振頻率FL測量精度：±5ppm+時基誤差+0.5Pf*頻率牽引力Ts
注意事項
播報
1.設(shè)備需要定期進行PI網(wǎng)絡(luò)校準
2.設(shè)備需要定期進行頻率校準
