Agilent 4286A 射頻LCR測試儀在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供精確、可靠和快速測量，以改進生產(chǎn)線上對電子元件進行測試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。

與反射測量技術(shù)不同，采用直流電 壓測量技術(shù)能在大的阻抗范圍進行精確測量。 生產(chǎn)率高，質(zhì)量可靠HP4286A 適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。

4286A的測量非�？�。此外，在小測 試電流(100μA)處優(yōu)良的測試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因為所需的取平均過程 非常短。

系統(tǒng)組建簡單測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點附近 ，而不會使誤差有任何增大。

增強的比較器功能可以使復(fù)雜的倉室適用于多頻或 陣列芯片測試。