氣體（如氮氣）及富化氣（如丙烷、天然氣）的噴口方向，絕對不可直接對準(zhǔn)氧探頭。否則，可能致使探頭保護(hù)管加速損壞、探頭本體受損，并引發(fā)測量偏差。
### 新爐或維修后烘爐
新砌筑或大修后的爐體，在升溫烘爐過程中，爐襯材料（如含Si、Na等物質(zhì)）會散發(fā)蒸汽。這些蒸汽若附著在探頭上，會使探頭內(nèi)部的ZrO₂元件迅速劣化，表現(xiàn)為內(nèi)阻異常增高、輸出電勢降低，甚至造成不可修復(fù)的永久性故障。因此，烘爐期間絕對禁止插入氧探頭，且烘爐時間必須充分。
### 炭黑析出與積碳
爐膛內(nèi)若存在炭黑析出及積碳情況，會加劇探頭電極的劣化過程，顯著縮短探頭壽命。例如，新爐烘爐后首次進(jìn)行預(yù)滲處理時，氣氛碳勢通常設(shè)定很高，極易形成積碳狀態(tài)。原則上，預(yù)滲階段不應(yīng)插入氧探頭。應(yīng)在預(yù)滲結(jié)束、爐內(nèi)完成燒碳處理或通入載體氣充分置換一段時間后，再插入氧探頭投入正常使用。整個生產(chǎn)工藝應(yīng)合理設(shè)置，盡量避免產(chǎn)生炭黑和形成積碳。尤其需注意，氧探頭保護(hù)管內(nèi)若出現(xiàn)積碳，極易造成探頭損壞。
### 富碳?xì)怏w的控制
對富化氣的流量需進(jìn)行精細(xì)控制，避免短時間內(nèi)通入大量富化氣。氧探頭的使用壽命在很大程度上受氣氛碳勢狀況的影響。當(dāng)通入的富化氣流量超過基礎(chǔ)氣體（如甲醇裂解氣）流量的10%（不超過15%）時，未完全裂解的CH₄會增多。此時，探頭鉑金電極起到催化作用，促使生成CO并附著在ZrO₂周圍，這會導(dǎo)致測量的碳勢（CP值）讀數(shù)偏高（實際工件滲層可能變淺），同時也會加速探頭鉑金電極的消耗。
以甲醇?xì)夥諡槔喝艏状剂髁繛?.0 L/hr，則富化氣流量按10%計算約為0.3 L/min（即約8.0 SLPM），按15%計算約為0.45 L/min（即約12.0 SLPM）。
### 爐氣純凈度
必須確保爐內(nèi)氣氛中不含由零件、工件、工裝夾具等帶入的低熔點金屬（如Zn、Sn、Se、Sb、As、Te、Pb、Bi、Ge、Mg等）蒸汽，以及S、P、Ce等有害元素氣體。
### 防滲碳劑的影響
當(dāng)使用防滲碳劑時，其揮發(fā)物可能附著在探頭ZrO₂元件表面，阻礙其與爐氣接觸，導(dǎo)致無法準(zhǔn)確測量氣氛。因此，防滲碳劑的使用量應(yīng)嚴(yán)格控制，請參考相關(guān)產(chǎn)品說明對裝料量進(jìn)行管理。對于長期進(jìn)行防滲涂料處理的工況，建議改用基于CO₂紅外分析等替代方法進(jìn)行碳勢控制更為可靠，同時可考慮為探頭適當(dāng)通入少量N₂進(jìn)行保護(hù)。
