一、概述 GB/T 1409-2006絕緣材料介電常數測試儀是具有多種功能和高測試頻率的新型阻抗分析儀，體積小，緊湊便攜，便于上架使用。本系列儀器基本精度為0.05%，測試頻率高2MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便簡潔。集成了變壓器測試功能、平衡測試功能,提高了測試效率。儀器提供了豐富的接口，能滿足自動分選測試，數據傳輸和保存的各種要求。 GDAT-S系列產品是電子元器件設計、檢驗、質量控制和生產測試強有力的工具。其超高速的測試速度使其特別適用于自動生產線的點檢機，壓電器件的頻率響應曲線分析等等。其多種輸出阻抗模式可以適應各個電感變壓器廠家的不同標準需求。 GB/T 1409-2006絕緣材料介電常數測試儀是符合 LXI 標準的新一代阻抗測試儀器，其 0.1%的基本精度、20Hz ～ 5MHz 的頻率范圍可以滿足元件與材料的測量要求，可測量低 ESR 電容器和高 Q 電感器的測量�？捎糜谥T如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變容二極管、變壓器等進行諸多電氣性能的分析。 二、產品用途 測試儀中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數可以直接不用人工計算得到。 測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置，標準介質樣品組成，能對絕緣材料進行 高低頻介電常數(ε)和介質損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。 工作頻率范圍是20Hz～1Mhz 2Mhz 5Mhz(選配）, 三種選項它能完成工作頻率內對絕緣材料的相對介電常數(ε)和介質損耗角 (D或tanδ)變化的測試。 三、產品優(yōu)勢 1. 變壓器參數測試功能 2. 高測試速度:13ms/次 3 電壓或電流的自動電平調整（ALC）功能 4. V、I 測試信號電平監(jiān)視功能 5.內部自帶直流偏置源 6. 可外接大電流直流偏置源 7.可直接得到介電常數和介質損耗 不用人工計算 8.可測試電阻 9. 4.3寸TFT液晶顯示 10. 中英文可選操作界面 11. 高5MHz的測試頻率 12. 平衡測試功能 13. 10點列表掃描測試功能 14. 30Ω、50Ω、100Ω可選內阻 15. 內建比較器，10檔分選和計數功能 16. 內部文件存儲和外部U盤文件保存 17.量數據可直接保存到U盤 18. RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口 19. 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值精度和重復性。 20. 介電常數測量范圍可達1～105 四、ε和D性能 ▶固體絕緣材料測試頻率20Hz～2MHz的ε和D變化的測試。 ▶ε和D測量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005， ▶ε和D測量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。 ▶測試參數 :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR ▶測試頻率 :20 Hz～2MHz,10mHz步進 ▶測試信號電:f1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）平 :f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV) ▶輸出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω ▶基本準確度 ;0.1% 五、顯示范圍 L 0.0001 uH ～ 9.9999kH C :0.0001 pF ～ 9.9999F R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ 六、顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S D :0.0001 ～ 9.9999 Q :0.0001 ～ 99999 θ :-179.99°～ 179.99° ▶測量速度 ：快速，200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 。中速， 25次/s, 慢速: 5次/s。 ▶校準功能 :開路 / 短路點頻、掃頻清零，負載校準 ▶等效方式 :串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式 ▶量程方式:自動, 保持 ▶顯示方式 :直讀, Δ, Δ% ▶觸發(fā)方式 :內部, 手動, 外部, 總線 ▶內部直流偏 :電壓模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進 ▶置源 :電流模式（內阻為50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進 ▶比較器功能:10檔分選及計數功能 ▶顯示器;320×240點陣圖形LCD顯示 ▶存儲器 :可保存20組儀器設定值 ▶USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support) ▶接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（選件） ▶工作頻率范圍：20Hz～2MHz 數字合成， ▶精度：±0.02% ▶電容測量范圍：0.00001pF～9.99999F 六位數顯 ▶電容測量基本誤差：±0.05% ▶損耗因素D值范圍：0.00001～9.99999 六位數顯 ▶介電常數測試裝置（含保護電極）： 精密介電常數測試裝置提供測試電極，能對直徑φ10～56mm，厚度<10mm的試樣精確測量。 ▶它針對不同試樣可設置為接觸電極法，薄膜電極法和非接觸法三種，以適應軟材料，表面不平整和薄膜試樣測試。 ▶微分頭分辨率：10μm ▶高耐壓：±42Vp（AC+DC） ▶電纜長度設置：1m ▶高使用頻率：5MHz （選配） 介電常數介質損耗測試儀的應用領域可分為以下方向： 一、介電常數介質損耗測試儀材料研發(fā)與性能優(yōu)化 ‌新型材料開發(fā)‌：評估陶瓷、聚合物、納米復合材料等的極化機制與能量損耗特性，指導配方優(yōu)化（如高聚物通過調整ε值提升耐高溫性能）。 ‌老化與失效分析‌：監(jiān)測材料在溫度、濕度變化下的介電性能演變（如高溫下介電常數的非線性變化）。 ‌食品與農業(yè)科學‌：通過介電常數間接檢測果蔬含水率、發(fā)酵程度，或優(yōu)化食品干燥、殺菌工藝參數。 二、介電常數介質損耗測試儀電子與電力工業(yè) ‌電容器與絕緣材料‌：測試聚丙烯薄膜（ε≈2.3）、電解液等介質的介電常數與損耗因數（tanδ<0.005），確保電容器儲能效率和穩(wěn)定性。 ‌高壓設備安全評估‌：檢測變壓器油、絕緣紙的介質損耗角正切值（tanδ），預防絕緣擊穿風險。 ‌電子元器件制造‌：評估液晶材料、半導體封裝材料的介電性能，優(yōu)化顯示響應速度或器件可靠性。 三、介電常數介質損耗測試儀通信與航空航天 ‌射頻與微波材料‌：優(yōu)化微波基板（如Rogers材料ε≈3.3-6.6）、天線材料的介電常數，提升高頻信號傳輸效率。 ‌極端環(huán)境適應性‌：測試航天器隔熱材料、航空復合材料在真空或高輻射環(huán)境下的介電穩(wěn)定性。 四、介電常數介質損耗測試儀工業(yè)質檢與生產控制 ‌化工與石油行業(yè)‌：檢測有機溶劑、聚合物溶液的介電常數，優(yōu)化涂料干燥性能或油品絕緣等級。 ‌汽車與能源設備‌：評估電池隔膜、燃料電池電解質的介電特性，確保充放電效率與安全性。 ‌建筑與土木工程‌：通過介電常數反演路基壓實度或監(jiān)測混凝土結構中的水分分布。 五、介電常數介質損耗測試儀跨領域創(chuàng)新應用 ‌環(huán)境監(jiān)測‌：利用土壤介電特性分析水土污染程度或預測地質災害（如巖石介電異常與地震關聯(lián)性）。 ‌醫(yī)療與生物工程‌：研究生物組織或醫(yī)用材料的介電響應特性，輔助開發(fā)新型傳感器或診斷設備。 六、介電常數介質損耗測試儀技術擴展方向 ‌高頻電路設計‌：結合阻抗測試（EIS）分析PCB基板材料的介電常數與信號完整性關系。 ‌儲能材料開發(fā)‌：通過介電常數優(yōu)化聚合物基復合材料，提升超級電容器能量密度。 七、介電常數介質損耗測試儀材料性能評估 ‌介電參數測量‌：用于精確測定材料的介電常數（ε）和介質損耗角正切值（tanδ），為評估絕緣材料、陶瓷、復合材料等電學特性提供核心數據。 ‌性能優(yōu)化支持‌：通過分析介電參數與材料微觀結構的關系，指導改進材料配方及生產工藝，提升耐壓、絕緣或高頻適應性等性能。 八、介電常數介質損耗測試儀行業(yè)應用場景 ‌電力與電子工業(yè)‌：檢測電力設備絕緣材料（如電纜、變壓器套管）的介電性能，保障電網安全運行；評估電子元器件基板材料的信號傳輸穩(wěn)定性。​