GDAT - S系列全自動(dòng)介電常數(shù)與介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)，依據(jù)GB/T 1693 - 2007及相關(guān)國際標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)，專用于精確測定聚乙烯等絕緣材料的介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗角正切值（tanδ 或 D），廣泛應(yīng)用于多個(gè)領(lǐng)域。
一、產(chǎn)品概述與技術(shù)原理
1.1 產(chǎn)品簡介
GDAT - S系列是基于“高頻阻抗分析儀 + 精密平板電容器測試裝置”的全自動(dòng)系統(tǒng)。通過測量試樣插入平板電容器前后的電容值（Cp）與損耗值（D）變化，由內(nèi)置處理器直接運(yùn)算并顯示ε和tanδ，無需人工干預(yù)和計(jì)算。
1.2 核心特點(diǎn)
全自動(dòng)測試：上下位機(jī)同步，一鍵讀取結(jié)果。 高精度寬范圍：基本精度達(dá)0.05%，ε測量范圍1 - 10，D測量范圍0.00001 - 9.99999。 寬頻測試：工作頻率20Hz至2MHz/5MHz（選配），滿足介電頻譜分析需求。 符合多標(biāo)準(zhǔn)：遵循GB/T 1693 - 2007等多國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)。 智能便捷：4.3寸TFT中英文液晶顯示，多種接口便于數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和遠(yuǎn)程控制。
二、主要技術(shù)參數(shù)與性能指標(biāo)
2.1 測量系統(tǒng)性能
測試參數(shù)：介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗角正切（tanδ/D）。 測量范圍：ε為1 - 10，D為0.00001 - 9.99999。 測量精度：典型值@10kHz時(shí)，ε±2%，D±5% ±0.0001。 測試頻率范圍：20Hz - 2MHz（標(biāo)準(zhǔn)），可選5MHz，分辨率10mHz。 電容測量：范圍0.00001pF - 9.99999F，基本誤差±0.05%，分辨率0.00001pF。 測試速度：最快13ms/次，有快速、中速、慢速模式可選。
2.2 阻抗分析儀核心參數(shù)
基本精度：0.1%。 測試功能：20余種主副參數(shù)組合。 顯示范圍：電感、電容、電阻等參數(shù)有相應(yīng)顯示范圍。 測試信號電平：電壓10mV - 5V，電流10µA - 100mA，精度有相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)。 內(nèi)部直流偏置源：電壓模式 -5V - +5V，電流模式 -100mA - +100mA。 輸出阻抗：多檔可選。 比較器功能：10檔分選及計(jì)數(shù)器，適用于質(zhì)量管控。
2.3 精密介電常數(shù)測試裝置
試樣規(guī)格：直徑φ10mm - φ56mm，厚度<10mm片狀試樣。 測試方法：接觸電極法、薄膜電極法、非接觸法。 機(jī)械精度：微分頭分辨率10µm。 電氣性能：使用頻率5MHz（選配），耐壓±42Vp，電纜長度可設(shè)。
2.4 系統(tǒng)配置
試驗(yàn)主機(jī)、精密介電常數(shù)測試電極、數(shù)據(jù)連接線、電源線、產(chǎn)品說明書等各一份。
三、產(chǎn)品核心優(yōu)勢與應(yīng)用價(jià)值
3.1 高度符合標(biāo)準(zhǔn)
儀器采用平板電容器法，與GB/T 1693 - 2007測試方法一致，自動(dòng)完成測量計(jì)算，排除人為誤差，為材料檢驗(yàn)和認(rèn)證提供權(quán)威數(shù)據(jù)。
3.2 提升效率與自動(dòng)化
“一鍵式”操作，提升單次測試效率。 高速測量，適用于批量樣品篩查。 支持?jǐn)?shù)據(jù)存儲(chǔ)和多種自動(dòng)化接口，可集成到自動(dòng)生產(chǎn)線。
3.3 確保數(shù)據(jù)精準(zhǔn)
高分辨率和精度，保證測量重復(fù)性和準(zhǔn)確性。 先進(jìn)校準(zhǔn)功能，消除分布參數(shù)影響。 優(yōu)化設(shè)計(jì)適應(yīng)環(huán)境，確保數(shù)據(jù)穩(wěn)定。
3.4 應(yīng)用廣泛
適用于電力絕緣材料、電子通信材料、高分子復(fù)合材料等的介電性能評估、研究、教學(xué)、質(zhì)量控制與失效分析。
