展出地點：德國斯圖加特展覽中心

展覽日期：2024年4月23-26日

承辦單位：中展遠(yuǎn)洋

展出周期：每年一屆

主辦單位：P.E.Schall

展品范圍：  

質(zhì)量控制系統(tǒng)產(chǎn)品：度量衡，測量及測試儀器及設(shè)備：分析儀器產(chǎn)品：光電子產(chǎn)品：材料測試儀器及設(shè)備：

質(zhì)量控制系統(tǒng)產(chǎn)品：程序控制系統(tǒng)；智能化質(zhì)量控制系統(tǒng)；自動系統(tǒng)；質(zhì)量控制數(shù)據(jù)處理；鑒定系統(tǒng)；質(zhì)量管理系統(tǒng)；環(huán)境管理系統(tǒng)、內(nèi)窺鏡產(chǎn)品。  

光電子產(chǎn)品：

感應(yīng)器；光纖技術(shù)測試產(chǎn)品；工業(yè)圖像分析及處理系統(tǒng)；光電子測量系統(tǒng)。  

材料測試儀器及設(shè)備：

破壞性（有損）檢測儀器及設(shè)備：測試張力、扭轉(zhuǎn)力、壓力、彎曲度、阻力的儀器；非破壞性（無損）測試儀器；材料測試儀器、三坐標(biāo)測量機(jī)、輔業(yè)有花崗石精密量儀、電子水平儀。  

度量衡，測量及測試儀器及設(shè)備：

測量設(shè)備；測量儀；測量機(jī)器人；機(jī)械測量儀器；測量系統(tǒng)、零部件和附件；電腦數(shù)控儀器；直線、角度測量儀器；厚度測量儀器、里氏硬度儀;流量計、濕度計；電子數(shù)顯卡尺、防水?dāng)?shù)顯卡尺、特殊目的測量及測試設(shè)備；測試設(shè)備、零部件；電阻式儀表；刀具預(yù)調(diào)測量儀、其他物理數(shù)據(jù)測試儀器。

分析儀器產(chǎn)品：水、空氣、氣體和材料分析系統(tǒng)和部件；

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